倫德克（RoentDek）延遲線探測(cè)器

（延遲線探測(cè)器的功能與局限：了解更多）

單粒子 / 光子探測(cè)器

（光子計(jì)數(shù)功能）

具有時(shí)間與位置敏感性的延遲線探測(cè)器（DLD）

空間分辨率：優(yōu)于 45 微米均方根（RMS）

（最佳性能：17 微米均方根（RMS））

時(shí)間分辨率：優(yōu)于 100 皮秒均方根（RMS）

（最佳性能：21 皮秒均方根（RMS））

有效直徑：40 毫米、80 毫米（最大可達(dá) 150 毫米）

可用計(jì)數(shù)率范圍：從幾赫茲（Hz）到幾兆赫茲（MHz）

包含微通道板（MCP）

也可提供簡(jiǎn)易定時(shí)陽(yáng)極版本（僅飛行時(shí)間測(cè)量：DET40 / DET75 型號(hào)）（鏈接）

可選配置：配備熒光屏（鏈接）

操作簡(jiǎn)便

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具備多擊中探測(cè)能力的探測(cè)器

（“零死時(shí)間"—— 六陽(yáng)極（HEXanode）探測(cè)器）

 三層設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)零死時(shí)間

專為多粒子事件設(shè)計(jì)

（例如：分子裂解過程）

更高的圖像線性度

有效直徑：40 毫米至 120 毫米

適用于 應(yīng)用場(chǎng)景

可選配置 1：帶中心孔的延遲線探測(cè)器

可選配置 2：搭配高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）的讀出系統(tǒng)

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便捷式螺栓安裝系統(tǒng)

（例如：適用于工業(yè)應(yīng)用場(chǎng)景）

操作簡(jiǎn)便的系統(tǒng)：

讀出陽(yáng)極置于真空環(huán)境外部

同樣適用于強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境

可支持高達(dá) 20 千伏（KV）的微通道板（MCP）電壓

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光子探測(cè)

（例如：來(lái)自寬場(chǎng)顯微鏡、熒光壽命成像顯微鏡（FLIMS）的光子）

具有時(shí)間與位置敏感性的光電倍增管

適用于需位置探測(cè)的單光子計(jì)數(shù)（TCSPC，時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)）

緊湊型密封外殼

無(wú)需真空室

采用外部延遲線陽(yáng)極進(jìn)行讀出

可能的應(yīng)用場(chǎng)景：

熒光顯微鏡（FLIMS，熒光壽命成像顯微鏡）

閃爍體產(chǎn)生的次級(jí)光子流

寬場(chǎng)成像